নাবিক ভর্তি পরীক্ষায় এআই প্রযুক্তি, প্রক্সি পরীক্ষার্থীসহ গ্রেফতার ১৮


Janobani

নিজস্ব প্রতিবেদক

প্রকাশ: ০৭:০৮ পিএম, ১৪ই আগস্ট ২০২৫


নাবিক ভর্তি পরীক্ষায় এআই প্রযুক্তি, প্রক্সি পরীক্ষার্থীসহ গ্রেফতার ১৮
ছবি: প্রতিনিধি।

নৌপরিবহন অধিদপ্তরের তত্ত্বাবধানে অনুষ্ঠিত ‘সমন্বিত নাবিক (রেটিং) ভর্তি ২০২৫’ পরীক্ষায় প্রথমবারের মতো চালু হয় এআই-ভিত্তিক ফেস আইডেন্টিফিকেশন সিস্টেম। পরীক্ষার শুরুর আগে ও চলাকালীন সময়ে কড়া নজরদারি ও তল্লাশিতে ধরা পড়ে প্রক্সি পরীক্ষার্থীসহ প্রযুক্তি ব্যবহার করে প্রতারণার চেষ্টাকারীরা।


গত শনিবার (৯ আগস্ট) রাজধানীর আগারগাঁও আদর্শ উচ্চ বিদ্যালয়, শেরেবাংলা নগরী বালিকা উচ্চ বিদ্যালয় ও আগারগাঁও সরকারি কলেজ কেন্দ্রে এই পরীক্ষা অনুষ্ঠিত হয়।


নৌপরিবহন অধিদপ্তরের মহাপরিচালক কমোডর মো. শফিউল বারী দায়িত্ব নেওয়ার পর পরীক্ষার স্বচ্ছতা ও ন্যায্যতা নিশ্চিতে কঠোর নির্দেশনা দেন।


পরীক্ষা শুরুর আগে তল্লাশির মুখে কিছু ভুয়া পরীক্ষার্থী পরীক্ষায় অংশ নেয়নি। পরীক্ষা চলাকালীন সময়ে একাধিক প্রক্সি পরীক্ষার্থী, দেহে সংযুক্ত ইলেকট্রনিক ডিভাইস ও ইয়ারবাডসহ কয়েকজনকে আটক করা হয়। পরে জিজ্ঞাসাবাদের ভিত্তিতে পরীক্ষার দিন রাতেই মিরপুর, শ্যামলী ও ফার্মগেট এলাকার বিভিন্ন হোটেলে অভিযান চালিয়ে প্রতারণার মূল হোতাদের একজনসহ মোট ১৮ জনকে গ্রেফতার করা হয়।


মহাপরিচালক কমোডর শফিউল বারী বলেন, ‘পরীক্ষায় স্বচ্ছতা ও ন্যায্যতা নিশ্চিত করতে আমরা সর্বোচ্চ সতর্কতা অবলম্বন করেছি। যেকোনো ধরনের অনিয়মের বিরুদ্ধে কঠোর ব্যবস্থা নেওয়া হবে।’


নৌপরিবহন অধিদপ্তর জানিয়েছে, পরীক্ষার শৃঙ্খলা বজায় রাখতে ভবিষ্যতেও এ ধরনের এআই প্রযুক্তি ও নজরদারি অব্যাহত থাকবে। আটককৃত ১৮ জনের বিরুদ্ধে রাজধানীর শেরে বাংলানগর থানায় মামলা দায়ের করা হয়েছে।



এসডি/